内容发布更新时间 : 2024/12/23 23:31:00星期一 下面是文章的全部内容请认真阅读。
表 26 闪存存储器特性
符号 tprog
参数 16 位的编程时间 整片擦除时间
条件 TA= -40~105°C TA= -40~105°C TA= -40~105°C 读模式，fHCLK=72MHz，2
个等待周期，VDD=3.3V
最小值 典型值 最大值 单位 - - -
-
20 2 10 21.6 3 1
μA μs
tERASE 页(1K 字节)擦除时间 tME
ms mA
IDD
供电电流
写/擦除模式， fHCLK=72MHz，VDD=3.3V 待机模式, VDD=3.3~3.6V
1. 由设计保证，不在生产中测试。
表 27 闪存存储器寿命和数据保存期限
符号
NEND tRET
参数 寿命 数据保存期限
条件
C(尾缀为 6) TA= -40~85°
TA = -40~105°C(尾缀为 7)
TA =-40-85°C 时
最小值 典型值 最大值 单位 100 10
千次 年
1. 由综合评估得出，不在生产中测试。
5.3.10 EMC 特性
敏感性测试是在产品的综合评估时抽样进行测试的。
功能性 EMS(电磁敏感性)
当运行一个简单的应用程序时(通过 I/O 端口闪烁 2 个 LED)，测试样品被施加 2 种电磁干扰直到产生 错误，LED 闪烁指示了错误的产生。
? 静电放电(ESD)(正放电和负放电)施加到芯片所有的引脚直到产生功能性错误。这个测试符合
IEC 1000-4-2 标准。 ?
FTB：在 VDD 和 VSS 上通过一个 100pF 的电容施加一个瞬变电压的脉冲群(正向和反向)直到产生 功能性错误。这个测试符合 IEC 1000-4-4 标准。 芯片复位可以使系统恢复正常操作。 测试结果列于下表中。
表 28 EMS 特性
符号
VFESD VEFTB
参数
条件
级别/类型
2B 4A
C， 施加到任一 I/O 脚，从而导致功能错误的 VDD = 3.3V，TA= +25 °
电压极限。 fHCLK = 72MHz。符合 IEC 1000-4-2 C， 在 VDD 和 VSS 上通过 100pF 的电容施加 VDD = 3.3V，TA= +25 °
的、导致功能错误的瞬变脉冲群电压极限 fHCLK = 72MHz。符合 IEC 1000-4-4
37
设计牢靠的软件以避免噪声的问题
在器件级进行 EMC 的评估和优化，是在典型的应用环境中进行的。应该注意的是，好的 EMC 性能与 用户应用和具体的软件密切相关。
因此，建议用户对软件实行 EMC 优化，并进行与 EMC 有关的认证测试。
软件建议
软件的流程中必须包含程序跑飞的控制，如： ? 被破坏的程序计数器 ? 意外的复位
? 关键数据被破坏(控制寄存器等……)
认证前的试验
很多常见的失效(意外的复位和程序计数器被破坏)，可以通过人工地在 NRST 上引入一个低电平或在 晶振引脚上引入一个持续 1 秒的低电平而重现。
在进行 ESD 测试时，可以把超出应用要求的电压直接施加在芯片上，当检测到意外动作的地方，软件 部分需要加强以防止发生不可恢复的错误。
电磁干扰(EMI)
在运行一个简单的应用程序时(通过 I/O 端口闪烁 2 个 LED)，监测芯片发射的电磁场。这个发射测试 符合 SAE J1752/3 标准，这个标准规定了测试板和引脚的负载。
表 29 EMI 特性
符号 参数
条件
监测的频段 0.1~30MHz
VDD= 3.3 V，TA=
最大值(fHSE/fHCLK) 8/48MHz 8/72MHz 12 22 23
4
12 19
单位
30~130MHz
dBμV
SEMI 峰值
25°C，LQFP100 封 130MHz~1GHz
装，符合 IEC 61967-2 SAM EMI 级
别
29 4
-
5.3.11 绝对最大值(电气敏感性)
基于三个不同的测试(ESD，LU)，使用特定的测量方法，对芯片进行强度测试以决定它的电气敏感性 方面的性能。
静电放电(ESD)
静电放电(一个正的脉冲然后间隔一秒钟后一个负的脉冲)施加到所有样品的所有引脚上，样品的大小 与芯片上供电引脚数目相关(3 片×(n+1)供电引脚)。这个测试符合 JESD22-A114/ C101 标准。
38
表 30ESD 绝对最大值
符号
V
ESD(HBM)
参数
静电放电电压( )
人体模型
条件 C，符 T = +25 °
类型
2 II
最大值(1)
2000 500
单位 V
合 JESD22-A114 T = +25 °C，符 合 JESD22-C101
VESD(CDM) 静电放电电压(充电设备模型)
1. 由综合评估得出，不在生产中测试。
静态栓锁
为了评估栓锁性能，需要在 6 个样品上进行 2 个互补的静态栓锁测试： ? 为每个电源引脚，提供超过极限的供电电压。 ? 在每个输入、输出和可配置的 I/O 引脚上注入电流。 这个测试符合 EIA/JESD 78A 集成电路栓锁标准。
表 31 电气敏感性
符号 LU
参数 静态栓锁类
条件
T = +105 °C，符合 JESD78A
类型 II 类 A
5.3.12 I/O 端口特性
通用输入/输出特性
除非特别说明，下表列出的参数是按照表 6 的条件测量得到。所有的 I/O 端口都是兼容 CMOS 和 TTL。
表 32 I/O 静态特性
符号
参数 条件
标准 I/O 脚，输入 低电平电压 FT I/O(1)脚，输入
低电平电压 所有 I/O 口，除了
BTOOT0 标准 I/O 脚，输入 高电平电压
最小值
典型值 -
最大值
0.28×（VDD-2V）+0.8V 0.32×（VDD-2V）
+0.75V
单位
-
VIL 低电平输入电压
0.35 VDD
V
0.41×（VDD-2V）+1.3V
VIH 高电平输入电压
FT I/O 脚(1)，输入
高电平电压 所有 I/O 口，除 了 BTOOT0
0.42×(VDD-2V)+1V
0.65 VDD
(2)
39
Vhys
标准 I/O 脚施密特 触发器电压迟滞(2) 5V 容忍 I/O 脚施密 特触发器电压迟滞
(2)
200
mV
5%VDD(3)
V
SS ≤ VIN ≤ VDD
±1 3
30 30
40 40 5
50 50
μA
Ilkg 输入漏电流(4)
标准 I/O 端口 VIN = 5V， 5V 容忍端口 VIN = VSS VIN = VDD
RPU RPD CIO
弱上拉等效电阻(5) 弱下拉等效电阻(5) I/O 引脚的电容
kΩ pF
1. FT = 5V 容忍。
2. 施密特触发器开关电平的迟滞电压。由综合评估得出，不在生产中测试。 3. 电压至少为 100mV。
4. 如果在相邻引脚有反向电流倒灌，则漏电流可能高于最大值。
5. 上拉和下拉电阻是设计为一个真正的电阻串联一个可开关的 PMOS/NMOS 实现。这个 PMON/NMOS 开关的电阻很小(约
占 10%)。
所有 I/O 端口都是 CMOS 和 TTL 兼容(不需软件配置)，它们的特性考虑了多数严格的 CMOS 工艺或 TTL 参数： ?
对于 VIH： ? ? ?
? ?
如果 VDD 介于[2.00V~3.08V]；使用 CMOS 特性但包含 TTL。 如果 VDD 介于[3.08V~3.60V]；使用 TTL 特性但包含 CMOS。 如果 VDD 介于[2.00V~2.28V]；使用 TTL 特性但包含 CMOS。 如果 VDD 介于[2.28V~3.60V]；使用 CMOS 特性但包含 TTL。
对于 VIL：
输出驱动电流
GPIO(通用输入/输出端口)可以吸收或输出多达+/-8mA 电流，并且吸收+20mA 电流(不严格的 V )。 在用户应用中，I/O 脚的数目必须保证驱动电流不能超过 5.2 节给出的绝对最大额定值： ? ?
所有 I/O 端口从 V 上获取的电流总和，加上 MCU 在 V 上获取的最大运行电流，不能超过绝对 最大额定值 IVDD(参见表 4)。
所有 I/O 端口吸收并从 V 上流出的电流总和，加上 MCU 在 V 上流出的最大运行电流，不能超 过绝对最大额定值 IVSS(参见表 4)。
输出电压
除非特别说明，表 33 列出的参数是使用环境温度和 VDD 供电电压符合表 6 的条件测量得到。所有的 I/O 端口都是兼容 CMOS 和 TTL 的。
40
表 33 输出电压特性
符号 VOL(1) VOH(2) VOL(1) VOH(2)(3) VOL(1)(3) VOH(2)(3) VOL(1)(3) VOH(2)(3)
输出高电平，当 8 个引脚同时输出电流 输出低电平，当 8 个引脚同时吸收电流 输出高电平，当 8 个引脚同时输出电流 输出低电平，当 8 个引脚同时吸收电流 输出高电平，当 8 个引脚同时输出电流 输出高电平，当 8 个引脚同时输出电流
2.7V < VDD< 3.6V
输出低电平，当 8 个引脚同时吸收电流 TLL 端口，IIO = +8mA
2.7V < VDD< 3.6V IIO = +20mA 2.7V < VDD< 3.6V IIO = +6mA 2V < VDD< 2.7V
VDD-0.4 2.4
0.4
2.4
1.3 0.4
V
参数
输出低电平，当 8 个引脚同时吸收电流
条件
CMOS 端口，IIO =
+8mA
VDD-0.4
最小值 最大值 单位
0.4
1. 芯片吸收的电流 IIO 必须始终遵循表 4 中给出的绝对最大额定值，同时 IIO 的总和(所有 I/O 脚和控制脚)不能超过 IVSS。 2. 芯片输出的电流 IIO 必须始终遵循表 4 中给出的绝对最大额定值，同时 IIO 的总和(所有 I/O 脚和控制脚)不能超过 IVDD。 3. 由综合评估得出，不在生产中测试。
输入输出交流特性
输入输出交流特性的定义和数值分别在图 16 和表 34 给出。
除非特别说明，列出的参数是使用环境温度和供电电压符合表 6 的条件测量得到。
表 34 输入输出交流特性
MODEx[1:0]
10 (2MHz)
01 (10MHz)
符号
参数
(1)
条件 最小值 最大值 单位
2 125(3) 125(3) 10 25(3) 25(3) 50 30 20 5(3) 8(3) 12(3) 5(3) 8(3)
41
最大频率(2) CL= 50 pF,VDD= 2~3.6V fmax(IO)out
tf(IO)out 输出高至低电平的下降时间 CL= 50 pF,VDD= 2~3.6V tr(IO)out 输出低至高电平的上升时间
MHz ns
最大频率(2) CL= 50 pF,VDD= 2~3.6V fmax(IO)out
tf(IO)out 输出高至低电平的下降时间 CL= 50 pF,VDD= 2~3.6V tr(IO)out 输出低至高电平的上升时间
MHz ns
CL= 30 pF,VDD= 2.7~3.6V
11 (50MHz)
fmax(IO)out 最大频率(2) CL= 50 pF,VDD= 2.7~3.6V MHz
CL=50 pF,VDD= 2~2.7V
CL= 30 pF,VDD= 2.7~3.6V
tf(IO)out 输出高至低电平的下降时间 CL= 50 pF,VDD= 2.7~3.6V
CL=50 pF,VDD= 2~2.7V
CL= 30 pF,VDD= 2.7~3.6V
CL= 50 pF,VDD= 2.7~3.6V
ns
tr(IO)out 输出低至高电平的上升时间