内容发布更新时间 : 2024/11/15 22:25:50星期一 下面是文章的全部内容请认真阅读。
断刷新并逐渐减小。因此，当前值接近临界值就意味着硬盘寿命的减少，发生故障的可能性增大，所以当前值也是判定硬盘健康状态或推测寿命的依据之一。
最差值（Worst）
最差值是硬盘运行时各ID项曾出现过的最小的value。
最差值是对硬盘运行中某项数据变劣的峰值统计，该数值也会不断刷新。通常，最差值与当前值是相等的，如果最差值出现较大的波动（小于当前值），表明硬盘曾出现错误或曾经历过恶劣的工作环境（如温度）。
临界值（Threshold）
在报告硬盘FAILED状态前，WORST可以允许的最小值。
临界值是硬盘厂商指定的表示某一项目可靠性的门限值，也称阈值，它通过特定公式计算而得。如果某个参数的当前值接近了临界值，就意味着硬盘将变得不可靠，可能导致数据丢失或者硬盘故障。由于临界值是硬盘厂商根据自己产品特性而确定的，因此用厂商提供的专用检测软件往往会跟Windows下检测软件的检测结果有较大出入。
硬盘的每项SMART信息中都有一个临界值（阈值），不同硬盘的临界值是不同的，SMART针对各项的当前值、最差值和临界值的比较结果以及数据值进行分析后，提供硬盘当前的评估状态，也是我们直观判断硬盘健康状态的重要信息。根据SMART的规定，状态一般有正常、警告、故障或错误三种状态。
SMART判定这三个状态与SMART的 Pre-failure/advisory BIT（预测错误/发现位）参数的赋值密切相关，当Pre-failure/advisory BIT=0，并且当前值、最差值远大于临界值的情况下，为正常标志。当Pre-failure/advisory BIT=0，并且当前值、最差
值大于但接近临界值时，为警告标志；当Pre-failure/advisory BIT=1，并且当前值、最差值小于临界值时，为故障或错误标志
原始值(RAW_VALUE)
制造商定义的原始值，从VALUE派生。
数据值是硬盘运行时各项参数的实测值，大部分SMART工具以十进制显示数据。
数据值代表的意义随参数而定，大致可以分为三类：
1）数据值并不直接反映硬盘状态，必须经过硬盘内置的计算公式换算成当前值才能得出结果；
2）数据值是直接累计的，如Start/Stop Count（启动/停止计数）的数据是50，即表示该硬盘从出厂到现在累计启停了50次；
3）有些参数的数据是即时数，如Temperature（温度）的数据值是44，表示硬盘的当前温度是44℃。
因此，有些参数直接查看数据也能大致了解硬盘目前的工作状态。
TYPE
属性的类型（Pre-fail或Oldage）。Pre-fail类型的属性可被看成一个关键属性，表示参与磁盘的整体SMART健康评估（PASSED/FAILED）。如果任何Pre-fail类型的属性故障，那么可视为磁盘将要发生故障。另一方面，Oldage类型的属性可被看成一个非关键的属性（如正常的磁盘磨损），表示不会使磁盘本身发生故障。
UPDATED
表示属性的更新频率。Offline代表磁盘上执行离线测试的时间。
WHEN_FAILED
如果VALUE小于等于THRESH，会被设置成“FAILING_NOW”；如果WORST小于等于THRESH会被设置成“In_the_past”；如果都不是，会被设置成“-”。在“FAILING_NOW”情况下，需要尽快备份重要 文件，特别是属性是Pre-fail类型时。“In_the_past”代表属性已经故障了，但在运行测试的时候没问题。“-”代表这个属性从没故障过。
三、SMART参数详解 一般情况下，用户只要观察当前值、最差值和临界值的关系，并注意状态提示信息即可大致了解硬盘的健康状况。下面简单介绍各参数的含义，以红色标出的项目是寿命关键项，蓝色为固态硬盘（SSD）特有的项目。
在基于闪存的固态硬盘中，存储单元分为两类：SLC（Single Layer Cell，单层单元）和MLC（Multi-Level Cell，多层单元）。SLC成本高、容量小、但读写速度快，可靠性高，擦写次数可高达100000次，比MLC高10倍。而MLC虽容量大、成本低，但其性能大幅落后于SLC。为了保证MLC的寿命，控制芯片还要有智能磨损平衡技术算法，使每个存储单元的写入次数可以平均分摊，以达到100万小时的平均无故障时间。因此固态硬盘有许多SMART参数是机械硬盘所没有的，如存储单元的擦写次数、备用块统计等等，这些新增项大都由厂家自定义，有些尚无详细的解释，有些解释也未必准确，此处也只是仅供参考。下面凡未注明厂商的固态硬盘特有的项均为SandForce主控芯片特有的，其它厂商各自单独注明。
01（001）底层数据读取错误率 Raw Read Error Rate 数据为0或任意值，当前值应远大于与临界值。
底层数据读取错误率是磁头从磁盘表面读取数据时出现的错误，对某些硬盘来说，
大于0的数据表明磁盘表面或者读写磁头发生问题，如介质损伤、磁头污染、磁头共振等等。不过对希捷硬盘来说，许多硬盘的这一项会有很大的数据量，这不代表有任何问题，主要是看当前值下降的程度。
在固态硬盘中，此项的数据值包含了可校正的错误与不可校正的RAISE错误（UECC＋URAISE）。
注：RAISE（Redundant Array of Independent Silicon Elements）意为独立硅元素冗余阵列，是固态硬盘特有的一种冗余恢复技术，保证内部有类似RAID阵列的数据安全性。
02（002）磁盘读写通量性能 Throughput Performance
此参数表示硬盘的读写通量性能，数据值越大越好。当前值如果偏低或趋近临界值，表示硬盘存在严重的问题，但现在的硬盘通常显示数据值为0或根本不显示此项，一般在进行了人工脱机SMART测试后才会有数据量。
03（003）主轴起旋时间 Spin Up Time
主轴起旋时间就是主轴电机从启动至达到额定转速所用的时间，数据值直接显示时间，单位为毫秒或者秒，因此数据值越小越好。不过对于正常硬盘来说，这一项仅仅是一个参考值，硬盘每次的启动时间都不相同，某次启动的稍慢些也不表示就有问题。
硬盘的主轴电机从启动至达到额定转速大致需要4秒～15秒左右，过长的启动时间说明电机驱动电路或者轴承机构有问题。旦这一参数的数据值在某些型号的硬盘上总是为0，这就要看当前值和最差值来判断了。
对于固态硬盘来说，所有的数据都是保存在半导体集成电路中，没有主轴电机，所以这项没有意义，数据固定为0，当前值固定为100。