半导体器件物理习题与参考文献 下载本文

内容发布更新时间 : 2024/12/26 12:38:58星期一 下面是文章的全部内容请认真阅读。

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半导体器件物理习题与参考文献

第一章习题 1–1.设晶格常数为a的一维晶体,导带极小值附近能量为Ec(k): ?2k2?2(k?k1)2 Ec(k)??3mm?2k23?2k2?价带极大值附近的能量为:Ev(k)?式中m为电子能量,

6mmk1??a?,试求: ,a?禁带宽度; 导带底电子的有效质量; 价带顶空穴的有效质量。 1–2.在一维情况下: 利用周期性边界条件证明:表示独立状态的k值数目等于晶体的原胞数; ?2k2设电子能量为E?,并考虑到电子的自旋可以有两种不同的取向,试*2mn*2mn证明在单位长度的晶体中单位能量间隔的状态数为N(E)?E?12。 h1–3.设硅晶体电子中电子的纵向有效质量为mL,横向有效质量为mt 如果外加电场沿[100]方向,试分别写出在[100]和[001]方向能谷中电子的加速度; 如果外加电场沿

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[110]方向,试求出[100]方向能谷中电子的加速度和电场之 间的夹角。 ?2k21–4.设导带底在布里渊中心,导带底Ec附近的电子能量可以表示为E(k)?Ec? *2mn*式中mn是电子的有效质量。试在二维和三维两种情况下,分别求出导带附近的状 态密度。 1–5.一块硅片掺磷10原子/cm。求室温下的载流子浓度和费米能级。 1–6.若n型半导体中Nd?ax,式中a为常数;Nd?N0e?ax推导出其中的电场。 1–7.一块硅样品的Nd?1015cm?3,?p?1?s,GL?5?10cms,计算它的 电导率和准费米能级。 求产生10个空穴/cm的GL值,它的电导率和费米能级为若干? 1–8. 一半导体Na?1016cm?3,?n?10?s,ni?1010cm?3,以及GL?10cms,计算 300K 时的准费米能级。 1–9.一块半无限的n型硅片受到产生率为GL的均匀光照,写出此条件下的空穴连 续方程。 若在x?0处表面复合速度为S,解新的连

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续方程证明稳定态的空穴分布可用 下式表示 18?3?115?315319?3?1pn(x)?pn0??pGL(1??pSe?x/LpLp?S?p) 1–10.于在一般的半导体中电子和空穴的迁移率不同的,所以在电子和空穴数目恰好 相等的本征半导体中不显示最高的电阻率。在这种情况下,最高的电阻率是本征半导体电阻率的多少倍?如果?n??p,最高电阻率的半导体是N型还是P型? 1–11.用光照射N型半导体样品,假设光被均匀的吸收,电子-空穴对的产生 率为G,空穴的寿命为?,光照开始时,即t?0,?p?0,试求出: 光照开始后任意时刻t的过剩空穴浓度?p(t); 在光照下,达到稳定态时的过剩空穴浓度。 1–12.施主浓度Nd?10cm15?3的N型硅。于光的照射产生了非平衡载流子 ?n??p?1014cm?3,试计算这种情况下准费米能级的位置,并与原来的费米能 级做比较。 1–13.一个N型硅样品,?p?430cm2/,空穴寿命为5?s。

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