内容发布更新时间 : 2024/5/23 0:32:55星期一 下面是文章的全部内容请认真阅读。

Zeta电位测量是美国麦奇克有限公司（Microtrac Inc.）以其在激光衍射、散射技术和颗粒表征方面的独到见解，经过多年的市场调研和潜心研究，开发出新一代Nanotrac wave II微电场分析技术，融纳米颗粒粒度分布与Zeta电位测量于一体，无需传统的比色皿，一次进样即可得到准确的粒度分布和Zeta电位分析数据。

与传统的Zeta电位分析技术相比，Nanotrac wave II采用先进的\型光纤探针光路设计，配置膜电极产生微电场，操作简单，测量迅速，无需精确定位由于电泳和电滲等效应导致的静止层，无需外加大功率电场，无需更换分别用于测量粒度和Zeta电位的样品池，完全消除由于空间位阻（不同光学元器件间的传输损失，比色皿器壁的折射和污染，比色皿位置的差异，分散介质的影响，颗粒间多重散射等）带来的光学信号的损失，结果准确可靠，重现性好。

麦奇克Microtrac zeta电位测量有什么特点呢？他主要有以下特点： ﹡ 采用新的动态光散射技术，引入能普概念代替传统光子相关光谱法

﹡ 专利的:“Y”型光纤光路系统，通过蓝宝石测量窗口，直接测量悬浮体系中的颗粒粒度分布，在加载电流的情况下，与膜电极对应产生微电场，测量同一体系的Zeta电位，避免样品交叉污

染与浓度变化。

﹡ 专利的异相多谱勒频移技术，较之传统的方法，获得光信号强度高出几个数量级，提高分析结果的可靠性。

﹡ 专利的可控参比方法（CRM），能精细分析多谱勒频移产生的能谱，确保分析的灵敏度。 ﹡ 超短的颗粒在悬浮液中的散射光程设计，减少了多重散射现象的干扰，保证高浓度溶液中纳米颗粒测试的准确性。

﹡ 专利的快速傅利叶变换算法（FFT，Fast Fourier Transform Algorithm Method）,迅速处理检测系统获得的能谱，缩短分析时间。

﹡ 专利膜电极设计，避免产生热效应，能准确测量颗粒电泳速度。

﹡ 无需比色皿，毛细管电泳池或外加电极池，仅需点击Zeta电位操作键，一分钟内即可得到分析结果

﹡ 消除多种空间位阻对散射光信号的干扰，诸如光路中不同光学元器件间传输的损失，样品池位置不同带来的误差，比色皿器壁的折射与污染，分散介质的影响，多重散射的衰减等，提高灵敏度。

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