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二极管包络检波实验 121180166 赵琛
实验七 二极管包络检波实验
121180166 赵琛
一.实验目的
1． 加深对二极管大信号包络检波工作原理的理解。 2． 加深对二极管大信号包络检波典型电路的理解。
3． 掌握用二极管大信号包络检波器实现普通调幅波（AM）解调的方法，掌握滤
波电容数值对AM波解调的影响，掌握惰性失真产生的原因和消除方法。
4． 掌握检波电路参数对普通调幅波（AM）解调的影响，掌握负峰切割失真产生
的原因和消除方法。
二、实验使用仪器
1．集成乘法调幅实验板、二极管包络检波实验板 2．100MH泰克双踪示波器 3. FLUKE万用表 4. 高频信号源
三、实验基本原理与电路 1. 二极管大信号包络检波工作原理 uiu2maUcmUcmuitu2UΩm直流成分U0U0 图7-1 大信号检波电路 图7-2大信号检波原理 t 图7-1是二极管大信号包络检波电路，图7-2表明了大信号检波的工作原理。
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输入信号ui(t)为正并超过C和R1上的u0(t)时，二极管导通，信号通过二极管向C充电，此时u0(t)随充电电压上升而升高。当ui(t)下降且小于u0(t)时，二极管反向截止，此时停止向C充电并通过RL放电，u0(t)随放电而下降。充电时，二极管的正向电阻rD较小，充电较快，u0(t)以接近ui(t)上升的速率升高。放电时，因电阻RL比rD大的多（通常RL?5~10k?），放电慢，故u0(t)的波动小，并保证基本上接近于ui(t)的幅值。如果ui(t)是高频等幅波，则u0(t)是大小为U0的直流电压（忽略了少量的高频成分），这正是带有滤波电容的整流电路。当输入信号ui(t)的幅度增大或减少时，检波器输出电压u0(t)也将随之近似成比例地升高或降低。当输入信号为调幅波时，检波器输出电压u0(t)就随着调幅波的包络线而变化，从而获得调制信号，完成检波作用，由于输出电压u0(t)的大小与输入电压的峰值接近相等，故把这种检波器称为峰值包络检波器。 2.二极管大信号包络检波效率
检波效率又称电压传输系数，用?d表示。它是检波器的主要性能指标之一，用来描述检波器将高频调幅波转换为低频电压的能力。?d定义为：
?d?检出的音频电压幅度(U?m)U?m?
调幅波包线变化的幅度(maUcm)maUcm当检波器输入为高频等幅波时，输出平均电压U0，则?d定义为 ?d?整出的直流电压(U0)U?0
检波电压的幅值(Ucm)Ucm这两个定义是一致的，对于同一个检波器，它们的值是相同的。由于检波原理分析可知，二极管包络检波器当RLC很大而rD很小时，输出低频电压振幅只略小于调幅波包络振幅，故?d略小于1，实际上?d在80%左右。并且R足够大时，
?d为常数，即检波器输出电压的平均值与输入高频电压的振幅成线性关系，所
以又把二极管峰值包络检波称为线性检波。检波效率与电路参数RL、C、r0以
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及信号大小有关。它很难用一个简单关系式表达，所以简单的理论计算还不如根据经验估算可靠。如要更精确一些，则可查图表并配以必要实测数据得到。
3.二极管大信号包络检波器输入电阻
输入电阻是检波器的另一个重要的性能指标。对于高频输入信号源来说，检波器相当于一个负载，此负载就是检波器的等效输入电阻Rin。
R?L Rin~2?d上式说明，大信号输入电阻Rin等于负载电阻的一半再除以?d。例如
RL?5.1k?，当?d=0.8，时，则Rin?5.1?3.2k?。
2?0.8由此数据可知，一般大信号检波比小信号检波输入电阻大。 4.二极管大信号包络检波器检波失真
检波输出可能产生三种失真：第一种，由于检波二极管伏安特性弯曲引起的失真；第二种是由于滤波电容放电慢引起的失真，它叫对角线失真，又称惰性失真；第三种是由于输出耦合电容上所充的直流电压引起的失真，这种失真叫割底失真，又称负峰切割失真。其中第一种失真主要存在于小信号检波器中，并且是小信号检波器中不可避免的失真，对于大信号检波器这种失真影响不大，主要是后两种失真。
(1) 对角线失真。如图7-3电路所示。
uuiu0t
图7 -3 对角线失真原理图
避免对角线失真的工程计算近似条件是： ?CRL?21?mama
上式表明ma或?大，则包络线变化快、CRL越大，则电容放电放电越慢，这
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些都促成发生对角线失真。 （2）割底失真。如图7-4所示。 （a） （b） 图7-4 割底失真原理及波形图 设?d?1，不产生割底失真的条件为 ~RiRiRLRLRL1 ma?1?????RL?RiRL?RiRL?RiRLRL~RL由该式可见，调制系数ma愈大或检波器交直流电阻之比愈小，则愈容易产生
RL割底失真。 4.实验电路
二极管大信号包络检波实验电路如图7-5。
K+12R4R5R7C5TP5C7R8TP1TP2D1C3TP3J32J21T1T2TP4OUTLEDIN1JIR13C4R2L?CC1C2RW3R6R3RW1RW2包络检波 图7-5 二极管大信号包络检波实验电路
A4-0808 电路原理:
已调幅波（AM）波从TP1处加入，二极管D一般选用高频检波二极管（2AP系列），电容C1 ，C2是检波电容，改变滑动变阻器RW1的抽头位置，可以改变
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检波电路的直流电阻，在TP2处可以观察到检波器输出的低频调制信号的波形（包括惰性失真的波形），改变滑动变阻器RW2的抽头位置，可以改变检波电路的交流电阻，在TP3处可以观察到检波器输出的低频调制信号的波形，（包括负峰切割失真的波形）。晶体管T1构成共射极电压放大，改变滑动变阻器RW3的抽头位置，可以控制解调输出的调制信号的幅度，晶体管T2构成射极跟随器，电容C5是输出隔直电容，最后在TP5处可以观察到解调并放大后的调制信号。
四、实验内容
1．普通调幅波（AM）的检波
（1）集成乘法器幅度调制实验电路板上产生调幅系数
ma为0.2的普通调幅波
（AM），由IN1端加入，如图7-6所示，由TP1点监测波形与幅度。
（2）连接J1，J2断开，调整RW1、RW2在TP2观察检波后不失真信号，如图7-7所示，记录波形，测量总的直流电阻值，并计算电压传输系数Kd（分别测量TP1波形的包络和TP2波形出的幅度，然后根据前面电压传输系数的定义进行计算）。
?d? (U?m)U?m0.170???0.500 (maUcm)maUcm0.340
计算的结果大约在0.5左右，也基本符合预期。
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