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文件名称 可靠性测试标准 文件编号 发布日期 QZ/LCT-ZC09-2007 版本 2011-05-05 主控部门 V6.3 综合测试部 正气 进取 专业 意见 签名/日期 李强斌 2011.05.03 拟制：综合测试部 审核：质量管理部 同意 同意 姚凤贤 2011.05.03 审核：质量策划部 同意 沈 平 2011.05.03 审核：第一产品事业部 同意 黄承梁 2011.05.03 审核：第二产品事业部 同意 常玉柱 2011.05.03 审核：三旗通信 同意 李志虎 2011.05.03 审核：国际业务事业部 同意 朱明里 2011.05.03 批准：产品质量总监 同意 王一昌 2011.05.03 文件说明 质量中心-综合测试部可靠性实验室负责实施。 版本号 修改时间 修改人 修改原因 修改主要内容 V1.0 2005.09.05 刘利 新建 软压由 50kg 改为 40kg； 滑盖测试后拆机测试 FPC 电阻 V2.0 2006.01.17 刘利 更新 增加高频振动、沙尘、滚筒跌落、酒精摩擦、铅笔硬度、胶 塞拉力、和存储卡拆装等测试 V3.0 2006.04.04 刘利 更新 触摸屏划线次数由 100000 次（反复一个来回记为一次）改为
V4.0 2006.05.30 吴小弟 更新 100000 次（反复一个来回记为 2 次） 1.需测 RF 参数的测试项取消，综测仪设备不要 2.中试阶段测试，由工程部提出申请改为由中试部提出申请 更新 3.增加包装振动测试和包装跌落测试项目 V4.1 2006.06.26 吴小弟 增加触感键寿命测试项目 更新
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V4.2 2006.08.30 吴小弟 正气、进取、专业
质量体系文件
1. 增加高低温运行中、恒温恒湿，跌落、高频振动、温度冲
击、软压、滚筒跌落、重复跌落、扭曲测试前后进行 RF 参数 测试； 2. 增加扭曲和冲击测试项目，增加 5.2.4 微动开关的寿命测 V5.0 2006.09.10 吴小弟 更新 试； 3. 5.3.2.6 中增加橡胶漆塑胶件和钢片材料的摩擦条件； 4. 环境测试（与温度及湿度相关的测试）后，手机在常温下 统一放置 1~2 小时后进行外观、结构、功能的检验； 5.增加 7 不良等级分类细则； 1． 低温储存：5.1.1.2 测试条件中的持续时间由 48hrs 改为 24hrs；温度由-30℃改为-40℃；2. 高温储存：5.1.5.2 测试 条件中的持续时间由 48hrs 改为 24hrs；3. 冲击：5.1.3.2 测 试条件：脉冲持续时间 6ms 改为 18ms ；5. 砂尘试验：更新 5.1.14.2 测试条件中的持续时间 3hrs 改为 8hrs；6. 充电器插拔： 5.2.7.2 测试条件：充电器、耳机和数据线插拔各为 2000 次； 7. 耳机插拔：5.2.5.2 测试条件：5000 次改为 2000 次；8.SIM 卡插拔： 5.2.9.2 测试条件：2500 次改为 1000 次；9.储存 卡拆装：5.2.10.2 测试条件：3000 次改为 2000 次；
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V6.0 2007.03.29 吴小弟 正气、进取、专业
质量体系文件
高低温储存：时间由 24h，改为 16h 冲击：条件改为加速度 25g，脉冲 6ms，每个轴的冲击次数改 为 1000 次 冲击/恒温恒湿/温度冲击/自由跌落的测试 样机数目：改为 8pcs 自由跌落：高度统一为 1.2m，跌落面为混凝土板面 盐雾的试验条件变更为：共三个喷雾周期，每次喷雾 2h，每 次喷雾后有一个为期 22h 的湿热储存周期。储存条件为(40± 2)℃,相对湿度为 90％～95％ 翻盖标准：由 5W 次更新为 8W 次 滑盖标准：由 5W 次更新为 8W 次 按键寿命：由 10W 次改为 20W 次 微动开关（hold 键）寿命：由 1W 次改为 2W 次 充电器插拔测试条件改为：3 合一的充电器，充电器插拔 2000 次，数据线和耳机各 1500 次，共 5000 次 电池盖拆装：由 1000 次改为 500 次 更新 存储卡拆装：由 2000 次改为 500 次 SIM 卡拆装：由 1000 次改为 500 次 触摸屏点击测试：测试速率由 2 次/S，改为 1 次/S 五向键寿命：由 3W 次改为 5W 次 重复跌落：跌落高度统一为 8cm，跌落次数由 20000 次改为 10000 次 摩擦测试：棱摩擦标准由 150 圈改为 100 圈；橡胶漆测试标 准由 140 圈改为 70 圈 百格：胶带的粘贴次数由 2 次改为 3 次 铅笔硬度：载荷由 1Kg 改为 0.5Kg 滚筒：测试次数由 1000 次改为 500 次 软压：测试标准由 3000 次改为 2000 次 扭曲：测试标准由 1000 次改为 500 次 增加人工汗液测试项
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V6.1 2008.11.18 陈贯中