2017年天津大学813半导体物理或电介质物理考研大纲硕士研究生入学考试大纲 下载本文

内容发布更新时间 : 2024/4/28 3:42:03星期一 下面是文章的全部内容请认真阅读。

天津大学

2017年硕士研究生初试考试自命题科目大纲

813 半导体物理或电介质物理 本考试课程由两部分组成,请考生根据自己的具体情况任选一部分进行答题。

第一部分:半导体物理考试大纲(参加半导体物理考试的考生参考): 一、考试的总体要求

本课程为本专业主干专业基础课,要求考生掌握半导体物理的基本概念、p-n 结、MOS 结构、 双极晶体管、MOS 晶体管等基本原理和应用。 二、考试的内容及比例 (一)考试内容要点: 第一部分:(50%) 1、半导体能带结构、半导体有效质量、空穴、杂质能级;

2、热平衡状态下半导体载流子的统计分布,本征半导体和杂质半导体的载流子浓度,简并 半导体和重掺杂效应; 3、半导体的导电性:载流子的漂移运动、迁移率、散射、强电场效应、热载流子的概念, 半导体电阻率与温度、杂质浓度的关系,体内负微分电导; 4、非平衡载流子:非平衡载流子的产生、复合、寿命、扩散长度、准费米能级,爱因斯坦 关系,一维稳定扩散,光激发载流子衰减;

5、p-n 结、MOS 结构:平衡与非平衡 p-n 结特点及其能带图,pn 结理想和非理想 I-V 特性, p-n 结电容概念与击穿机制,p-n 结隧道效应、肖特基势垒二极管;

6、MOS 结构表面电场效应,理想与实际 MOS 结构 C-V 特性,MOS 系统的性质(固定电 荷、可动离子、界面态对 C-V 特性的影响),表面电场对 p-n 结特性的影响; 第二部分:(50%) 7、双极晶体管的基本结构、原理,少数子分布,低频电流增益和非理想效应; 8、双极晶体管的等效电路模型、频率特性和开关特性;

9、MOSFET 的基本结构、原理,阈值电压,电流电压关系,击穿特性和频率特性; 10、MOSFET 的非理想特性:亚阈值特性、沟道长度调制效应、短沟道效应; 11、光器件与功率器件的原理、特点与应用 (二)比例: 两部分考试内容各占 50%。 三、试卷题型及比例 1、概念与问答题:40%;

2、论述题:30%;

3、计算与推导题:20%; 4、实验与综合题:10%。 四、考试形式及时间

考试形式均为笔试。考试时间为 3 小时(满分 150)。 五、参考书目 半导体物理学,(第七版),刘恩科、朱秉升、罗晋生编著,电子工业出版社。 半导体物理与器件,(第四版),赵毅强、姚素英等译,电子工业出版社。 晶体管原理与设计,陈星弼 张庆中等, 电子工业出版社。

第二部分:电介质物理大纲(参加电介质物理考试的考生参考): 一、考试的总体要求

本课程要求考生重点掌握电介质物理的基本原理与概念,并能运用这些基本概念分析和解释 有关的实际问题。

二、考试的内容及比例 考试具体范围如下: 1、恒定电场中电介质的极化

(1)介电常数和介质极化; (2)有效电场;

(3)克-莫方程及其应用;

(4)极性液体介质的有效电场;

(5)电子位移极化、离子位移极化、转向极化、热离子极化、空间电荷极化。 2、恒定电场中电介质的电导 (1)气体介质的电导; (2)液体介质的电导;

(3)固体介质的电导-固体介质的离子电导; (4)固体介质的表面电导;

(5)直流电场下介质的绝缘电阻与能量损耗。 3、交变电场中电介质的损耗 (1)复介电常数和复折射率; (2)介质损耗; (3)弛豫现象; (4)德拜方程;

(5)柯尔-柯尔圆弧律;

(6)介质损耗与温度的关系; (7)计及漏电导时的介质损耗; (8)有损耗电介质的等效电路。 三、试卷类型及比例 1、名词辨析题:20%

2、填空题:20% 3、简答题:40% 4、综合题:20% 四、考试形式及时间

考试形式均为笔试。考试时间为 3 小时(满分 150 分)。 五、参考书目 1、《电介质物理导论》,李翰如,成都科技大学出版社;

2、《电介质物理基础》,孙目珍,华南理工大学出版社; 3、《电介质物理》,张良莹、姚熹,西安交通大学出版社。