金属箔式应变片传感器性能设计研究实验报告 下载本文

内容发布更新时间 : 2024/5/7 20:41:53星期一 下面是文章的全部内容请认真阅读。

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南昌大学物理实验报告

课程名称: 普通物理实验(3)

实验名称: 金属箔式应变片传感器性能研究

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实验地点: 座位号:

实验时间:

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一、 实验目的:

1.了解金属箔式应变片的应变效应,掌握单臂电桥工作原理和性能。 2.比较全桥、、半桥与单臂电桥的不同性能、了解其特点。

3.了解全桥测量电路的优点及其在工程测试中的实际应用。

二、 实验仪器:

应变传感器实验模块、托盘、砝码、、数显电压表、±15V和±4V电源

三、 实验原理:

电阻丝在外力作用下发生机械变形时,其电阻值发生变化,这就是电阻应变效应,描述电阻应变效应的关系式为:ΔR/R=Kε,式中ΔR/R为电阻丝电阻相对变化,K为应变灵敏系数,ε=Δl/l为电阻丝长度相对变化。金属箔式应变片就是通过光刻、腐蚀等工艺制成的应变敏感组件,四个金属箔应变片分别贴在弹性体的上下两侧,弹性体受到压力发生形变,应变片随弹性体形变被拉伸,或被压缩。通过这些应变片转换被测部位受力状态变化、电桥的作用完成电阻到电压的比例变化。

1、单臂电桥实验如图1-1所示,R5、R6、R7为固定电阻,与应变片一起构成一个单臂电桥。

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其输出电压

Uo?n??R1?E R1?1?n?2E为电桥电源电压,R为固定电阻值,上式表明单臂电桥输出为非线性,存在着非线性误差

2、半桥差动电路如图1-2,不同受力方向的两只应变片接入电桥作为邻边。

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图1-2

电桥输出灵敏度提高,非线性得到改善,当两只应变片的阻值相同、应变数也相同时,半桥的输出电压为

E为电桥电源电压,上式表明,差动半桥输出与应变片阻值变化率呈线性关系。

3、全桥测量电路如图1-3,受力性质相同的两只应变片接到电桥的对边,不同的接入邻边,当应变片初始值相等,变化量也相等时,其桥路输出:

Uo??R1E R1E为电桥电源电压,上式表明,全桥输出灵敏度比半桥又提高了一倍。

四、 实验内容:

1、单桥性能测试

(1)变传感器上的各应变片已分别接到应变传感器模块左上方的R1、

R2、R3、R4上,可用多用表测量判别,R1=R2=R3=R4=350Ω.

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(2)从主控台接入±15V电源,检查无误后,合上主控台电源开关,将差动放大器的输入端Ui短接,输出端U02接数显电压表(选择2V档),调节电位器Rw4,使电压表显示为0V,Rw4的位置确定后不能改动。关闭主控台电源。

(3)将应变式传感器的其中一个应变电阻(如R1)接入电桥与R5,R6,R7构成一个单臂直流电桥,见图31-2,接好电桥调零电位器Rw1,直流电源±4V,电桥输出接到差动放大器的输入端Ui,检查接线无误后,合上主控台电源开关,调节Rw1,使电压表显示为零(不为零亦可)。

(4)在应变传感器托盘上放置一只砝码,调节Rw3,改变差动放大器的增益,使数显电压表显示2mV,读取数显表数值,保持Rw3不变,依次增加砝码并读取相应的数显表值,表格自拟。

2、半桥性能测试

差动放大器调零后,按图31-3接线。调节Rw1,使电压表显示为零。在

应变传感器托盘上放置一只砝码,调节Rw3,改变差动放大器的增益,使数显电压表显示10mV左右,读取数显表数值,保持Rw3不变,依次增加砝码和读取相应的数显表值,直到200g砝码加完,表格自拟。

3、全桥性能测试

差动放大器调零后,按图31-4接线,在应变传感器托盘上放置一只砝码,

调节Rw3,改变差动放大器的增益,使数显电压表显示0.020V左右,读取数显表数值,保持Rw3不变,依次增加砝码并读取相应的数显表数值,直到200g砝码加完。

五、 实验数据及数据分析处理: 表一:单桥性能测试

拟合 Δ 0.35 0.17 0.29 0.32 0.66 0.64 0.82 0.39 0.63 0.75 20 2.0 40 6.1 60 10.5 80 14.8 100 18.1 120 22.4 140 26.5 160 31.2 180 36.5 200 40.9 1.65 5.93 10.21 14.48 18.76 23.04 27.32 31.59 35.87 40.15 专业.资料.整理