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试题

《可靠性工程基础》试题目录

1 -------------------------------------(2)

试题 2 -------------------------------------(15)

试题 3 -------------------------------------(29)

试题 4 -------------------------------------(42)

试题

5 --------------------------------------(55)

《可靠性工程基础》——试题1

一、是非判断题（是画∨，非画×）

⒈并联系统是冗余系统的一种。

⒉串联系统的可靠性一定小于其中任意一个组成单元的可靠性。

（ ）

（ ）

⒊可靠性分配应该在可靠性预计的基础上进行。 （ ）

⒋产品在规定的条件下，规定的时间内不能完成规定的功能称为故障。 （ ） 5. FMECA一般是一种对产品失效进行定性分析的手段。（ ）

⒍若某一产品的失效事件为M，M由两单元的失效事件C和D组成，则其产品的失效概率P（M）=P（C）+P（D）。 （ ） ⒎电子元器件在任何情况下原则上都不允许超额使用。（ ）

⒏我们称MTBF为产品的平均寿命。 （ ）

⒐可靠性老炼和筛选试验的目的都是为了提高产品的固有可靠性。

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（ ）

⒑产品可靠性规定的时间只能用小时计算。 （ ）二、选择题

⒈某产品的可靠度为R(t )，当t 1小于t 2时，可靠度R(t 1)与R(t 2) 的关系为

。

① R(t1)一定大于或等于R(t2)； ② R(t1)一定小于或等于R(t2)；

③ R(t1)可能大于、等于或小于R(t2)。

⒉寿命为指数分布的2个单元组成一个并联系统，若两单元的失效率分别为λ1和λ2，则该系统的 MTBF为 。

① 1/(λ1 +λ2)； ③ 1/λ1 + 1/λ2；

3. 电子元器件老炼的目的是

①提高产品的固有可靠性； ②剔除产品的早期失效； ③消除产品参数的漂移。

⒋产品可靠性筛选试验的目的是

①提高产品的固有可靠性； ②消除产品参数的漂移；

③剔除产品的早期失效。 ⒌对单元产品的可靠性评估一般采用＿＿＿＿＿＿＿。

①点估计法； ②区间估计法； ③ CMSR法； ④ MML法。

⒍产品失效分布函数的代号是

① f(t)； ② R(t)； ③ λ(t)； ④ F(t)。

⒎对单元产品进行可靠性评估应根据

①一批产品的使用试验结果；

。 。

② 1/λ1 + 1/λ2 + 1/(λ1 +λ2)；

④ 1/λ1 + 1/λ2 - 1/(λ1 +λ2)。 。

。

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②一批产品的随机抽样寿命试验结果； ③该产品的可靠性分配结果。

⒏在事先没有规定产品可靠性指标的情况下，用来测定产品可靠性特征量的试验称做 。

①可靠性验证试验； ②可靠性验收试验； ③可靠性测定试验。

⒐故障树分析的代号是

① ETA； ② FMEA； ③ FT； ④ FTA 。 三、填空题

。

⒈若产品的性能指标X～N(μ，σ)=(10,1),则其概率密度函数 f(x) = 。 ⒉若产品的寿命服从指数分布，则其

R(t) = ； F(t) = ；f (t) = ； λ(t) = ；MTBF= 。

⒊电子线路的三次设计是指

⒋产品在规定的条件下，在规定的

称为产品的可靠性。

⒌一个系统由n个单元组成。当每个单元都正常工作时系统才能正常工作，此时我们称这种系统为 系统；如果只要有一个单元

工作系统就能工作，此时我们称这种系统为 系统；如果n个单元中 有k个或k个以上完好系统才能正常工作，我们把这种系统称为系统，其代号为 。

⒍一般产品失效率函数曲线的形状象洗澡盆，故称

曲线，按其变化规律可分为三个阶段，即 失效期、失效期和 失效期。

、

和

内，完成规定功能的

。

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