内容发布更新时间 : 2024/5/13 9:10:35星期一 下面是文章的全部内容请认真阅读。

电子科技大学 微固 学院

标 准 实 验 报 告

（实验）课程名称 微电子器件

电子科技大学教务处制表

电 子 科 技 大 学

实 验 报 告

学生姓名： 学 号： 指导教师：张有润

实验地点： 211楼605 实验时间：一、实验室名称： 微电子器件实验室 二、实验项目名称：晶体管开关特性的测试分析 三、实验学时：3 四、实验原理：

图1

如图1所示，如果在晶体管基极输入一脉冲信号Vi，则基极和集电极电流波型如图所示。故由图可读出其延迟时间Td、上升时间Tr、存储时间Ts和下降时间Tf。

晶体管开关时间参数一般是按照集电极电流iC的变化来定义： ? ? ? ? ?

延迟时间td：从脉冲信号加入到iC上升到。 上升时间tr ：从上升到 ICS。

存储时间ts ：从脉冲信号去除到iC下降到 ICS。 下降时间tf：从 ICS下降到 ICS。

其中td + tr即开启时间、 ts + tf即关闭时间 。

五、实验目的：

掌握晶体管开关特性测量原理。并能熟练地运用仪器其对双极晶体管的开关时间进行测试。

六、实验内容：

掌握晶体管开关特性测量原理，用如下实验装置图2观察晶体管输入输出波型，读出各参数。

改变外电路偏置，研究电路偏置对开关时间的影响。

图2

七、实验器材（设备、元器件）：

双踪示波器、脉冲发生器、直流稳压电源、测试盒、9031NPN