内容发布更新时间 : 2024/11/10 2:11:26星期一 下面是文章的全部内容请认真阅读。

一． 名词解释

1. 光轴角（2V）：两光轴相交的锐角

2. 贝克线：在偏光显微镜下观察矿物切面光线较集中的一方沿矿物边缘形成的一条亮带。 3. 洛多奇尼科夫色散效应：当两种介质折射率相差很小时，贝克线发生变化，在折射率较

低的矿物一边出现橙黄色细线，在折射率较高的矿物一边出现浅蓝色细线的现象。 4. 糙面：是在偏光显微镜下所见矿物粗糙的表面，是光线通过矿片后产生的一种光学效应。 5. 闪突起：是旋转物台时，矿物切面的突起时高时低，发生闪动变化的现象。 6. 矿物的颜色：是矿物在单偏光镜下的色泽。

7. 多色性：是非均质体矿物颜色色彩发生改变呈多种色彩的现象。

8. 糙面：偏光显微镜下所见的矿物的粗糙表面，是光线通过矿片后产生的一种光学效应。 9. 吸收性：矿物颜色深浅发生改变的现象。

10. 消光：正交偏光镜下透明矿物矿片呈现黑暗的现象。 11. 消光位：在正交偏光镜下处于消光时的位置。

12. 全消光：旋转物台360度，矿片始终保持黑暗的现象。

13. 干涉色：正交显微镜下用白光观察时，非均质体矿片呈现的各种颜色。

14. 补色法则：在正交偏光镜间，两个非均质体任意方向的切片（除垂直光轴外的），在45

度位置重叠时，两矿片光率体椭圆半径同名半径平行，总光程差等于原来两矿片光程差之和，表现为干涉色升高。异名半径平行时，总光程差等于原来两矿片光程差之差，其干涉色降低。

15. 消色：当光率体椭圆异名半径平行时，总光程差R=0时，矿片黑暗的现象。 16. 延性：矿物晶体沿着一个或两个光率体椭圆半径方向延长的习性。 17. 正延性：切面延长方向与其光率体椭圆长半径平行或交角小于45度。 18. 负延性：切面延长方向与其光率体椭圆短半径平行或交角小于45度。 19. 单偏光：垂直光波传播方向的某一个固定方向上振动的光波。

20. 自然光：垂直光波传播方向的平面内各个方向上都有等振幅的光振动的光波。 21. 双折射率：光波进入非均质体分解为两种偏光后，这两种偏光折射率的差值。 22. 光率体：是表示在晶体中传播的光波振动方向与晶体对该光波的折射率之间关系的立体

几何图形。 23. 光性方位：是指光率体在晶体中的定向，以光率体主轴与晶体结晶轴之间的相互关系表

示。

24. 解理：是指矿物受外力作用后延一定结晶学方向裂成光滑平面的性质。 25. 平行消光：矿片在消光位时，矿物的解理纹

26. 均质体：光学性质在各个方向上都是相同的矿物。 27. 光性非均质体：光学性质随方向不同而异的矿物。 28. Bxa：两光轴所夹锐角的平分线。 29. Bxo: 两光轴所夹钝角的平分线。

二． 填空

1. 单偏光镜下观察晶体的晶形、解理、突起、颜色这几种光学性质。

2. 正交偏光镜下观察晶体的最高干涉色、最大双折射率、消光类型及消光角、延性符号、

双晶这几种光学性质。

3. 单偏光镜下观察晶体的干涉图、轴性、光性符号、光轴角这几种光学性质。 4. 下降物台贝克线向折射率大的介质一方移动。

5. 下降载物台，贝克线向树胶移动，矿物为负突起；贝克线向矿物移动，矿物为正突起 6. 具有闪突起的矿物一般最大双折率较大，而且最大最小折射率分别属于两个不同等级的

折射率范围

7. 平行OA或平行OAP的切面闪突起最明显。 8. 解理纹的可见度与矿物的解理性质、矿物的切面方向、N矿与N胶的差值等因素有关。 9. 消光类型分为平行消光、对称消光和斜消光

10. 均质体任意切面和非均质体垂直OA的切面可以形成全消光。

11. 矿物的颜色与矿物的化学成分、晶体的结构特点、晶体缺陷、杂质及超显微包裹等因

素有关

12. 云母试板多用于干涉色为II级黄以上的矿片观察 ，石膏试板多用于干涉色为II级黄

以下的矿片观察

13. 观察干涉图时，换用高倍物镜的作用在于能接纳较大范围的倾斜入射光波以观察到范

围较大、波形较完整的干涉图。

14. 定向切面种类有一轴晶垂直OA切面 、一轴晶平行OA切面 、二轴晶垂直Bxa切面 、

二轴晶垂直Bxo切面、二轴晶直OA切面、 二轴晶平行OAP切面、 二轴晶平行一个光率体主轴的切面 、垂直解理面的切面、 垂直c轴切面、 平行解理面的切面 15. 糙面明显程度主要取决于矿物折射率与树胶折射率的差值 16. 云母试板光程差147mm，干涉色一级亮灰，石膏试板光程差550mm，干涉色一级紫红。 17. 干涉色高低取决于光程差、矿片的性质、矿片的切面方向、矿片的厚度

三． 判断改错

1. 二轴晶光率体任意切面上都有Nm 错 二轴晶光率体的垂直光轴OA切面、垂直锐角等分线Bxa切面、垂直钝角等分线Bxo切面、垂直光轴面NgNp的斜交切面上有Nm

2. 一轴晶正光性光率体放倒了是否能成为负光性光率体 错 正、负光率体的倒放的同时改变了其光轴方向，所以错误。

3. 正突起是否向上突起？负突起是否向下凹陷？ 错

此处“正负”是指矿物折射率“大于”还是“小于”树胶的折射率，并不是指突起向上还是向下。

4. 具有闪突起的晶体无论在任何切面都能见到闪突起 错

垂直光轴切面无闪突起

5. 多色性明显和吸收性强有必然的联系 错

有的矿物多色性很明显，吸收性也很强，如普通角闪石；有的矿物多色性明显，但吸收

性不强，紫苏辉石；有的矿物多色性不 是很明显，但吸收性很强，如黑云母。

四． 实验操作

1. 非均质体矿片上光率体椭圆半径方位和名称的测定步骤。 ①将选好的矿片移至视域中心，转物台使矿片消光。此时矿片光率体椭圆半径方向与目镜十字丝方向一致 ②转物台45°，使矿片干涉色最亮。此时矿片光率体椭圆半径方向与十字丝成45°交角，即与将插入的试板光率体椭圆半径方向一致

③插入试板，确定干涉色是升高还是降低。若干涉色降低，说明矿片与试板光率体椭圆异名半径平行：平行试板边长方向的矿片光率体椭圆半 径为长半径，另一方向为短半径

④插入试板后，若干涉色升高，说明矿片与试板光率体椭圆同名半径平行：平行试板边长方向的矿片光率体椭圆半径为短半径，另一方向为长半径 2. 楔形边法测定矿物最高干涉色级序的步骤。

①选择切面。一轴晶应为平行OA切面，二轴晶应为平行OAP切面，若为有色矿物，此类切面多色行最明显。总的原则是：首先要选择边缘色圈较 多者，其次要选择切面主体表面干涉色较高者。若矿物的族名、光性方位已知，自行程度，则切面形态、解理纹方向也可作为选切面的依据

②将选定的切面移至视域中心，从消光位转物台45°，观察切面主体干涉色彩

③选择切面边缘干涉色色圈带较宽的区域，查明其中红色条带的数量，若为n条，则其干涉色级别为（n+1）级。当干涉色带较窄时，可用高倍 物镜进行观察 ④干涉色的级数加上切面主体干涉色即为切面干涉色级序

⑤为了确保测定准确，重复①至④步骤，多测几个切面，从中选取最高的干涉色作为矿物的最高干涉色

3. 用云母试板、石膏试板测定矿物最高干涉色级序的步骤。

①选择切面。切面的种类及其特征如楔形边法中所述 ②将选好的切面移至视域中心，先后在+45°位和—45°位分别加入石膏试板和云母试板，观察矿物干涉色的升降变化，对照表，确定矿片的干 涉色级序。若两种试板判别结果一致，矿片干涉色测定结果正确。

③重复①、②步，多观察几个切面，选取其中最高的干涉色作为矿物的最高干涉色 4. 以普通角闪石为例，试述消光角的测定步骤。

①选择符合要求的切面，将切面移至视域中心，在单偏光镜下使已知结晶方向平行纵丝(或横丝)记录物台读数x1 ②旋转物台使矿片消光，则切面光率体椭圆半径与十字丝方向一致，记录物台读数x2，算出α=| x1—x2|。并作素描图，标出光率体椭圆半径 方及其与结晶方向的夹角α ③旋转物台45°，矿片干涉色最亮。从试板孔中插入试板，根据干涉色升降确定光率体椭圆半径名称。 ④写出消光角公式。

5. 以黑电气石为例，试述一轴晶多色性公式和吸收性公式的测定步骤？

（1）选择切面。选择平行OA切面，该切面光率体椭圆半径分别为No、Ne.平行OA切面有以下特征：单色光镜下多色性变化最明显 正交偏光镜下干涉色最高 锥偏光镜下干涉图为闪图