内容发布更新时间 : 2024/11/19 19:36:23星期一 下面是文章的全部内容请认真阅读。
《光电检测》题库
一、填空题
1.对于光电器件而言，最重要的参数是 、 和 。 2.光电倍增管由阳极、光入射窗、电子光学输入系统、 和 等构成。 3.光电三极管的工作过程分为 和 。 4.激光产生的基本条件是受激辐射、 和 。 5. 非平衡载流子的复合大致可以分为 和 。
6.在共价键晶体中，从最内层的电子直到最外层的价电子都正好填满相应的能带，能量最高的是 填满的能带，称为价带。价带以上的能带 ，其中最低的能带常称为 ， 与 之间的区域称为 。
7.本征半导体在绝对零度时，又不受光、电、磁等外界条件作用，此时导带中没有 ，价带中没有 ，所以不能 。
8.载流子的运动有两种型式， 和 。 9. 发光二极管发出光的颜色是由材料的 决定的。
10. 光电检测电路一般情况下由 、 、 组成。
11. 光电效应分为内光电效应和 效应，其中内光电效应包括 和 ，光敏电阻属于 效应。
12.半导体对光的吸收一般有 、 、 、 和 这五种形式。 13. 光电器件作为光电开关、光电报警使用时，不考虑其线性，但要考虑 。 14.半导体对光的吸收可以分为五种，其中 和 可以产生光电效应。
15.光电倍增管由阳极、光入射窗、电子光学输入系统、 和 等构成，光电倍增管的光谱响应曲线主要取决于 材料的性质。
16.描述发光二极管的发光光谱的两个主要参量是 和 。
17.检测器件和放大电路的主要连接类型有 、 和 等。 18..使用莫尔条纹法进行位移-数字量变换有两个优点，分别是 和 。 19.电荷耦合器件（CCD）的基本功能是 和 。
20.光电编码器可以按照其构造和数字脉冲的性质进行分类，按照信号性质可以分为 和 。
21.交替变化的光信号，必须使所选器件的 大于输入信号的频率才能测出输入信号的变化。 22.随着光电技术的发展，可以实现前后级电路隔离的较为有效的器件是 。 23.硅光电池在 偏置时，其光电流与入射辐射通量有良好的线性关系，且动态范围较大。 24.发光二极管的峰值波长是由 决定的。
二、名词解释
1. 光亮度： 2. 本征半导体： 3. N型半导体：
4. 载流子的扩散运动： 5. 光生伏特效应： 6. 内光电效应： 7.光电效应 8.量子效率 9.分辨率 10.二次调制 11.二值化处理 12.光电检测技术 13.响应时间 14.热电偶 15.亮度中心检测法
三、判断正误
1. A/D变换量化误差不随输入电压变化而变化，是一种偶然误差。 （ ）
2. 采样/保持电路起到信号保持作用的保持电容，电容容量愈大电压下降愈慢，所以保持电容越大越好。（3. 光电倍增管的光电阴极上发射出光电子的最大速度随入射光光子能量的增大而增大。（ ） 4. 影响光电器件探测极限的因素是噪声，噪声是可以消除或减小的。（ ）
5. 光电倍增管的光谱响应曲线与光电阴极的光谱响应曲线相同，主要取决于光电阴极材料的性质。（ ）6. 光敏电阻是光电导效应器件。（ ）
7. CCD驱动信号中三相与两相的电极结构是一样的。（ ） 8. CCD器件按像敏元的排列形式可以分为一维和二维两种。（ ）
）
9. 光电耦合器件具有信号传输的单向性，所以只适用于的直流或数字脉冲信号。（ ） 10. 雪崩二极管在使用时要加高反向偏压。（ ）
四、简答题
1．光电检测器件和热电检测器件的比较。 2．简述光电池与光电二极管的区别。 3.简述光电检测电路设计依据及其设计要求。
4.对于扩散型PiN硅光敏二极管来说，i层主要起到了什么作用？ 5．简述变像管和像增强管的工作原理及区别？
6. 探测器件在进行极为微弱的信号探测时，有时要放入液氮中使用，为什么？ 7.简述光电池与光电二极管的相同点和区别。 8. 简述光电检测电路的组成及各部分的作用。
9.以热敏电阻探测温度为例，分析热敏电阻典型桥路的输出电压变化?U与热敏电阻温度变化?T之间关系？ 10.光电导体的灵敏度大小取决于哪些因素？为什么要把光敏电阻的形状制成蛇形？在微弱的光照下，光电导和光强之间是什么样的关系？
11.简述像点轴外偏移检测的像偏移法测位移的工作原理. 12.雪崩光敏二极管和光电倍增管的异同？ 13.帧转移型面阵CCD的组成及工作过程？ 14.简单画出光电成像系统的原理方框图？
15.在微弱辐射作用下，光电导材料的光电灵敏度有什么特点？当辐射增强，该特点有何变化？ 16.PSD器件的主要特点是什么？画图说明激光三角法测量中PSD的作用。 17.CMOS图像传感器与CCD图像传感器的主要区别是什么？
18.说明热释电摄像管中斩光器的作用。当斩光器的微电机出现不转或转速变慢故障时，会发生什么现象？ 19.单元光电信号的二值化处理方法有哪些，其各自有何特点？ 20.激光扫描系统的组成及测量原理
21.光栅莫尔条纹的产生原理及在位移测量中的作用和特点？