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质量体系三级文件 文件编号: Q/AMTJ-WI-31 标 题 X射线检测作业指导书 第页/共页 修订号 1/6 X射线检测作业指导书 1.总则 为了保证X射线检测工作质量,?获得符合标准要求的X射线照相底片,对X射线照相底片进行正确评定,特制订本作业指导书。 2.适用范围 本作业指导书主要适用于检测工件内部埋藏性缺陷,?主要对象为承压类设备（包括锅炉、压力容器、压力管道）金属材料受压元件的熔化焊对接接头的X射线检测。检测厚度范围：①碳素钢、低合金钢、奥氏体不锈钢、镍及镍合金制承压设备为2-400mm；②铝及铝合金制承压设备为2-80mm；③钛及钛合金制承压设备为2-50mm；④碳素钢、低合金钢、奥氏体不锈钢、镍及镍合金、铜及铜合金、铝及铝合金制承压设备管子及压力管道为壁厚T≥2mm。 3.检测人员资格要求 3.1从事射线检测的人员必须经过技术培训，按《特种设备无损检测人员考核与监督管理规则》取得与其工作相适应级别的资格证书。 3.2从事X射线检测人员应经过辐射安全知识培训，并取得放射工作人员证。 3.3X射线检测人员未经矫正或经矫正的近（距）视力和远（距）视力应不低于5.0（小数记录值为1.0）。测试方法应符合GB 11533的规定。从事评片的人员应每年检查一次视力。 3.4从事底片评定、检测报告签发与审核必须是Ⅱ级以上资格的人员。 4.引用文件 JB/T4730-2005 承压设备无损检测 第一部分：通用要求 JB/T4730-2005 承压设备无损检测 第二部分：射线检测 GB 11533—1989 标准对数视力表 GB 16357—1996 工业X射线探伤放射卫生防护标准 GB 18871—2002 电离辐射防护与辐射源安全基本标准 GB/T 19384.1—2003 无损检测 工业射线照相胶片 第1部分： 工业射线胶片系统的分类 GB/T 19384.2—2003 无损检测 工业射线照相胶片 第2部分： 用参考值方法控制胶片处理 HB 7684—2000 射线照相用线型像质计 JB/T 7902—1999 线型像质计 JB/T 7903—1999 工业射线照相底片观片灯 GB150 钢制压力容器 X射线检测和质量评定应按受检产品的技术标准执行。当技术标准中规定不明确时,?应由无损检测负责人提出处理意见经所技术负责人同意，与委托方协商确定。 5. X射线检测器材 阿拉善盟特种设备检验所

质量体系三级文件 文件编号: Q/AMTJ-WI-31 标 题 5.1 X射线机 x射线机性能应符合JB/T7413《携带式工业X射线探伤机》标准技术要求。 5.2胶片 5.2.1使用的胶片质量应符合有关技术标准要求,?胶片使用前进行灰雾度值测量，其本底灰雾度应不大于0.3。 5.2.2在正常透照条件下,?注意考查胶片的对比度、清晰度和伪缺陷情况。 5.2.3胶片竖立存放在阴凉干燥房间,?不得受射线和有害气体影响,胶片在曝光后应当日进行暗室 处理。 5.2.4?胶片在符合要求的暗室红灯下曝露时间不得过长,不得手触药膜,不得造成磨擦和局部折损。 5.2.5 A级和AB级X射线检测技术应采用T3类或更高类别的胶片，B级X射线检测技术应采用T2类或更高类别的胶片。 5.3增感屏 5.5.1采用铅箔增感屏,前后屏厚度为0.02-0.2mm。 5.5.2为防止背散射影响应加大后屏厚度或采取其它屏蔽措施。 5.5.3增感屏保存时防止受潮、局部受压,?使用时不得用湿手操作,并防止沾上定影液。当增感屏有 严重磨损、局部铅箔脱落或增感程度不均等现象时,应停止使用。 5.6暗袋 5.6.1暗袋应选用黑色,胶片在暗袋中自然条件下12小时不感光; 5.6.2增感屏和胶片在暗袋中不应串动,?当暗袋有局部开裂应及时修补或更换。 5.7象质计 5.7.1线型象质计应符合JB/T7902的规定，JB/T7902中未包含的丝径、线号等内容，应符合HB7684的有关规定,?小径管对接接头应选用通用线型象质计或JB/T4730.2－2005规定的专用象质计。 5.7.2象质计钢丝有折断弯曲、变形或符号不全时,应停止使用。 5.7.3象质计的材料应与工件的材质相同或相近。 5.8观片灯 5.8.1观片灯的主要性能应符合JB/T7903的规定。 5.8.2观片灯的最大亮度应能满足评片的要求。 5.9黑度计 5.9.1黑度计可测量的最大黑度不低于4.5。 5.9.2黑度计每六个月应校验一次。 5.10显影液、定影液和停影液配方 5.10.1选用胶片型号所推荐的配方。 5.10.2配制、更换和报废应作记录 X射线检测作业指导书 第页/共页 修订号 2/6 阿拉善盟特种设备检验所

质量体系三级文件 文件编号: Q/AMTJ-WI-31 标 题 X射线检测作业指导书 第页/共页 修订号 3/6 5.11其它辅助用品应满足JB/T4730.2－2005标准要求。 6.表面要求和检测时机 6.1被检测的工件均在外观检查合格后进行检测，且表面的不规则状态在底片上的影像不得掩盖或干扰缺陷影像，否则应对表面做适当修整。 6.2除非特殊规定，射线检测应在焊后进行，对有延迟裂纹倾向的材料，至少应在焊接完成后24小时进行。 7.射线检测技术等级选择 射线检测技术等级选择应符合有关标准、图样或委托单位的要求。 8.透照布置 8.1透照方式 应根据工件特点和技术条件的要求选择适宜的透照方式。在可以实施的情况下应选用单壁透照方式，在单壁透照不能实施时才允许采用双壁透照方式。 8.2透照方向 为提高环向焊接接头横向裂纹的检出率，应尽可能采用内透法, 只要可能,应优先选用中心法内透法。如单面焊焊接接头根部裂纹和未焊透应采用外照法。透照时射线束中心一般应垂直指向透照区中心，需要时也可选用有利于发现缺陷的方向透照。 ? 8.3一次透照长度 8.3.1一次透照长度应以透照厚度比K进行控制。不同级别射线检测技术和不同类型对接焊接接头的透照厚度比应符下表的规定。整条环向对接焊接接头所需的透照次数可参照JB/T4730.2-2005附录D(资料性附录)的曲线图确定或按几何条件计算确定。 允许的透照厚度比K 射线检测技术级别 纵向焊接接头 环向焊接接头 A级，AB级 K≤1.03 K≤1.1 1）B级 K≤1.0l K≤1.06 1)对100mm＜Do≤400mm的环向对接焊接接头(包括曲率相同的曲面焊接接头)，A级、AB级允许采用K≤1.2。 8.3.2,几何条件选择依据: (1)纵向焊接接头透照时(K值≤1.03) L3≤1/2·L1,Leff=L3+ΔL,ΔL=1/2·L2 (2)环向焊接接头外透法摄片数量N值计算式: K值≤1.1,N=180/α,α=θ-η,θ=cosKη=sin[D/(D+2·L1)sinθ] (3)双壁单影法摄片数量N值计算式: K值≤1.1,N=180/α,α=θ+η,θ=cosk

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