微电子器件与电路实验实验一实验报告 下载本文

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微电子器件与电路实验报告

姓名 实验时间

2016.10 学号 实验成绩 合作人 教师签名 实验名称 实验设备 实验目的 实验一 二极管电学特性仿真验证实验 (1)计算机 (2)Multisim 12 1.各种类型的二极管的IV特性测试 2.各种类型的二极管正向导通电压随温度漂移特性测试 3.齐纳二极管反向击穿电压随温度漂移特性测试 4.各种二极管的CV特性曲线测试 1.普通二极管、齐纳二极管、肖特基二极管、LED二极管IV特性分析 2.普通二极管、齐纳二极管、肖特基二极管正向导通电压随温度漂移特性分析 3.齐纳二极管反向击穿电压随温度漂移特性分析 4.普通二极管、肖特基二极管、变容二极管CV特性分析 实验内容 实 验 报 告 要 求 1. 实验前按要求阅读器件说明文档,阅读实验操作文档,熟悉实验过程及操作步骤 2. 按实验报告要求操作、记录数据(波形)、处理数据(波形) 实 验 记 录: 实验1.1 二极管IV特性分析(IV分析仪) 1N4001普通二极管、1N4728A稳压二极管、1N5817G肖特基二极管、LED蓝灯(LED_blue)的正向导通电压及反向击穿电压,及IV特性波形记录 实验1.2 二极管IV特性分析 1N4001普通二极管、1N4728A稳压二极管、1N5817G肖特基二极管正向偏置下指定电流下的二极管偏压及IV特性曲线 实验1.3 二极管正偏电压随温度漂移特性 1N4001普通二极管、1N4728A稳压二极管、1N5817G肖特基二极管在1mA恒流驱动下,二极管正向导通电压随温度漂移特性及波形记录 实验1.4 齐纳二极管反向击穿电压随温度漂移特性 1N4728A,1N4733A,1N4743A在10mA恒流驱动下,反向击穿电压随温度漂移特性及波形记录 实验1.5 二极管反向偏置下CV特性 1N4001普通二极管、1N5817G肖特基二极管、BB112变容二极管反偏CV特性测试及Excell数据处理绘制CV特性曲线

实验1.1二极管IV特性分析(IV分析仪) 二极管正向导通电压及反向击穿电压数据记录 表格1-1 IV分析仪分析二极管IV特性 1 2 4 蓝光LED 3.2 61 ①将1N4001二极管IV特性曲线(IV分析仪)波形放在下面虚方框中,需按照要求处理波形,并标注正向导通电压和反向击穿电压点【波形打印出来必须清晰】 型号 1N4001 1N4728A 1N5817G 正向导通电压V@1mA 0.535 0.494 0.123 反向击穿电压V@-1mA 53 3.2 20 ②将1N4728A二极管IV特性曲线(IV分析仪)波形放在下面虚方框中,需按照要求处理波形,并标注正向导通电压和反向击穿电压点【波形打印出来必须清晰】

③将1N5817G二极管IV特性曲线(IV分析仪)波形放在下面虚方框中,需按照要求处理波形,并标注正向导通电压和反向击穿电压点【波形打印出来必须清晰】 ④将蓝光LED二极管IV特性曲线(IV分析仪)波形放在下面虚方框中,需按照要求处理波形,并标注正向导通电压和反向击穿电压点【波形打印出来必须清晰】 实验1.2二极管IV特性分析(直流分析) 正向偏置状态下二极管的IV特性,并计算电流增加10倍时,二极管正向偏压的增加值 计算方法:比如0.1mA时电压为416mV,1mA时电压为535mV,电压增量为△V=119mV。 表格1-2 二极管正向偏置下IV特性 1 2 3 型号 1N4001 △V 1N4728A △V 1N5817G V@0.1mA 0.416 ------- 0.435 ------- 0.051 V@1mA 0.535 0.119 0.494 0.059 0.123 V@10m 0.655 0.120 0.554 0.060 0.202 V@1 0mA 0.778 0.123 0.613 0.059 0.287 V@1000m 0.936 0.158 0.674 0.061 0.413