内容发布更新时间 : 2024/11/20 17:37:30星期一 下面是文章的全部内容请认真阅读。

《数字电子技术》实验指导书

实验一实验二实验三实验四实验五

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集成逻辑门的参数测试 译码器及其应用 触发器

时序电路测试与研究 555时基电路 TTL

实验一

一、实验名称： TTL集成逻辑门的参数测试 二、所需设备： （1）示波器

（2）四输入双与非门74LS20芯片（实际使用74HC20芯片，管脚功能与74LS20一致） （3）万用表 （4）导线若干 三、实验要求：

①熟悉TTL与非门逻辑功能的测试方法。

②熟悉TTL与非门特性参数的意义以及传输特性的测试方法。 ③进一步掌握TTL门电路的使用方法。 四、实验步骤：

1.掌握芯片74LS20管脚功能

74LS20管脚图

2.准备所需的实验器材，按照电路原理图连接硬件实物，需仔细查看电路中的器件连接到的引脚，防止连接错误，注意芯片的插入方向。

3.观察结果，记录数据。

4.分析验证得到的结果，总结并得出心得。 五、报告模板：

1．验证TTL集成与非门74LS20的逻辑功能

取任一个与非门按图1—1连接实验电路，用逻辑开关改变输入端A、B、C、D逻辑电平，输出端接电平指标器及数字电压表。逐个测试集成块中两个门，测

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试结果记入表1—1中。

图1—1

输入 An 1 0 1 1 1 Bn 1 1 0 1 1 Cn 1 1 1 0 1 Dn 1 1 1 1 0 输出 Y 表1-1 2．74LS20主要参数的测试 （1）导通电源电流ICDL

按图1—2（a）接线，测试结果记入表1—2中。

图1-2

（2）截止电源电流ICDH

按图1—2（b）接线，此时应将两个与非门的所有输入端都接地，测试结果

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